Mikroskopie

REM-EDX (Rasterelektronenmikroskop mit Energiedispersiver Röntgenspektroskopie)

Einsatz 

Das REM-EDX ermöglicht hochauflösende Abbildungen von Probenoberflächen und punktgenaue Elementanalysen. Elektronenstrahlen erzeugen Strukturbilder im Mikrometerbereich, während die EDX-Detektion die chemische Zusammensetzung erfasst. Morphologie und Materialzusammensetzung können so präzise untersucht werden. Die räumliche Auflösung liegt typischerweise im Mikro- bis Nanometerbereich, die chemische Analysegenauigkeit bei wenigen Prozent.
 

Technische Spezifikation

  • Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
  • Modell: Prima E
  • Detektoren: Everhart-Thornley (ETD) SE detector, Low-vacuum SE detector (LVD) & Gaseous SED (GSED)
  • Maximale Auflösung: 3 nm
  • Maximale Probengröße: 122 mm Durchmesser & 50 mm Höhe

AFM (Rasterkraftmikroskop)

Einsatz

Das AFM ermöglicht die hochauflösende Untersuchung von Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich. Mit einer feinen Tastspitze wird die Probe berührungslos abgerastert und ein dreidimensionales Höhenprofil erstellt. So können Topografie und Rauigkeit gemessen werden. Zudem besitzt das AFM die Möglichkeit im sogenannten PFQNM-Modus zu messen, in dem mittels AFM Spitze Kraft-Deformationskurven gemessen werden und sich so zusätzlich mechanische Eigenschaften wie Elastizitätsmodul, Haftkraft, Adhäsion und Dissipation ableiten lassen.
 

Technische Spezifikation

Kontaktwinkelmikroskop

Einsatz

Das Kontaktwinkelmikroskop misst den Benetzungsgrad von Oberflächen anhand der Tropfenbildung, wobei verschiedene Flüssigkeiten eingesetzt werden können. Aus dem Kontaktwinkel lassen sich die Oberflächenenergie sowie die Hydrophilie oder Hydrophobie der untersuchten Probe ableiten.

 

Technische Spezifikation

Digitalmikroskop

Einsatz

Das Digitalmikroskop ermöglicht hochauflösende Abbildungen von Oberflächen und Strukturen, ohne aufwendige Probenvorbereitung. Die optische Vergrößerung wird über eine digitale Kamera erfasst, die die entstehenden Bilder in Echtzeit aufzeichnen kann. Dadurch ist eine sofortige Beobachtung der Proben möglich, während die gespeicherten Bilddaten eine spätere detaillierte Analyse erlauben. Mit dieser Technik lassen sich Morphologie, Maßhaltigkeit und weitere Oberflächenmerkmale schnell mit hoher Auflösung analysieren.

 

Modelle & Technische Spezifikationen

 

Modell

 

Keyence VHX 6000

 

 

 

 

 

 

 

Keyence VHX 7000 4K Digital Microscope

 

 

 

Bildqualität & Optik

 

  • CMOS-Sensor mit 3MP
  • Full-HD-Auflösung (1920x1080 px)
  • LED-Beleuchtung mit guter Farbwiedergabe
 
  • 4K-Sensor mit 12 MP
  • 4K Auflösung (4000x3000 px)
  • LED-Beleuchtung mit optimiertem Weißabgleich

 

Funktion & Leistung

 

  • Standard Autofokus
  • 30 fps Live-Bild
 
 
 
 
 
  • 50 fps Live-Bild
  • Erweiterte Mess- und Analysefunktionen in der Software

 

Messfunktionen

 

  • 2D-Messungen
  • 3D-Standard Oberflächen-modellierung 
 
 
 
  • 2D-& 3D-Messungen mit präziser Oberflächentopografie

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